适用的显微技术
- 各种光学显微镜
- SEM – 扫描电子显微镜
- TEM – 透射电子显微镜
- EDS – 能量色散 X 射线光谱仪
- 微型 FTIR – 傅立叶变换红外光谱仪
- SWLIM – 扫描白光干涉显微镜
- 共焦拉曼显微镜/光谱仪
光学显微镜：
要对小颗粒进行分类和鉴别，首先需要结合使用透射光和反射光在显微镜下观察颗粒。 若颗粒具有独特的特性，则还可以使用显微镜将其拍摄下来，然后再对其进行测量和显示，以用于报告或广告宣传。 我们拥有多种光学显微镜，可提供多种放大倍数，满足各种样品的观察需求。
扫描电子显微镜 (SEM)：
如果需要对光学显微镜下的观察结果进行确认或者颗粒不透明，则可使用电子显微镜进行二次测试，以对颗粒进行成像和分析。 电子显微镜与光学显微镜的直接区别在于，SEM 生成的图像是灰度图像。 这类图像呈现的景深和细节比光学显微镜更佳，另外，当电子撞击样品时，产生的 X 射线可展现样品中存在的各种元素。 若再搭配使用能量色散 X 射线光谱仪 (EDS)，便可对样品进行成像的同时确定样品中存在的元素。
透射电子显微镜 (TEM)：
如果颗粒太小，无法使用光学显微镜或扫描电子显微镜进行分析和成像，则必须在透射电子显微镜下进行观察和分析。 对于薄样品或可以制成薄片的样品，TEM 成像技术可以呈现颗粒的晶体结构及其元素组成 (EDS)。 TEM 可以分析和鉴别粘土、颜料颗粒、薄膜和其他纳米颗粒。 有些材料（如细矿物纤维、粘土颗粒和烟灰）只需进行很少的准备即可进行分析。 而另一些材料则需要在分析前进行大量样品制备工作。
微型傅立叶变换红外光谱仪 (FTIR)：
塑料颗粒（容易变形）可以在显微镜下使用反射和透射红外光进行表征。 对于聚合物材料，可以制备样品并使用 FTIR 进行表征和鉴定。 然后，可将得出的红外光谱与数千个参考光谱进行比较，从而确定聚合物类型。 如果生产设施生产的成品中有时会出现不必要的颗粒，则可以建立一个红外光谱参考库，用于鉴别工艺中所用的材料，这样有助于对客户退货进行表征。
扫描白光干涉显微镜 (SWLIM)
表面表征所采用的的方法稍有不同，可使用能够测量表面粗糙度并提供三维表面图像的显微镜。 这种显微镜可利用反射白光进行焦点扫描，从而创建三维数据集，您可以根据该数据集计算表面粗糙度参数。 与轮廓仪不同，SWLIM 是一种非接触式技术，几乎不需要制备样品。