Particle Testing Authority (PTA) 具有业内最为丰富的粒径测量服务
我们的合同服务涵盖至少 6 种不同的粒径测量技术，可帮助您解决您可能会遇到的任何粒径测量挑战或具体应用需求。 我们的员工拥有丰富的经验和深厚的科学知识，能够帮助您解释结果，使您能够获得大量数据，进而做出明智的决策。
适用测试
- 通过动态光散射 (DLS) 测定粒径
- 通过静态光散射测定粒径
- X 射线沉降技术
- 电感应区
- 透气性粒径测定
- 筛分分析
- SEM–扫描电子显微镜
- 颗粒形状测量
- 光透法
- Zeta 电位电荷排斥测量
通过动态光散射 (DLS) 测定粒径
动态光散射可用于表征纳米颗粒，该技术可测量液体悬浮液或溶液中做布朗运动的分散颗粒散射的光强度变化，从而测定粒径。 颗粒越大，布朗运动越慢。 相比静态光散射测量技术，动态光散射技术非常合适颗粒浓度较高的溶液。
适用的仪器：
- NanoPlus HD
通过静态光散射测定粒径
激光散射技术以 Mie 和 Fraunhofer 理论为基础，可通过光散射模式测定粒径分布。 颗粒越小，折射和吸附对静态光散射模式的影响就越大。 该技术的典型测量范围在 0.02 um 至 2000 um 之间。
适用的仪器：
- Micromeritics Saturn 高分辨率 DigiSizer
- Malvern Mastersizer 3000
- Malvern Mastersizer 2000
X 射线沉降技术
颗粒在液体介质中沉降时会按粒径大小分离，X 射线沉降技术正是利用了这一自然趋势。 各大小级别的质量分数可通过软 X 射线的吸附能力进行测定。 在粒径分布较窄的情况下，该方法能够实现出色的分辨率。 其测量范围在 0.1 um 至 300um 之间。
适用的仪器：
电感应区
电感应区法通常称为库尔特原理。当小孔管两侧浸入电解质后，两个电极之间将产生一个电路， 当电解质流掠过孔管中的颗粒时，会产生与颗粒体积成正比的电信号。 该技术可用于测量粒径以及通过计算溶液中的颗粒数量来测定颗粒浓度。
其粒径测量范围在 0.5 um 至 300 um 之间
该技术可与比较成熟的光散射技术形成非常实用的正交设计方法，并且该技术与光透技术不同，它不受颗粒形状和光学特性的影响。
适用的仪器：
- Micromeritics Elzone II 5390
透气性粒径测定
该技术的原理依据为，粉体填充床上存在压降。 通过改变样品高度，可以根据卡门方程确定床“孔隙率”、平均表面积和粒径与压降和流速的函数关系。 SAS 的粒径测量范围在 0.2 µm 至 75 µm 之间，压缩精度小于 0.05 mm。 该方法得出的结果与既有的费氏粒度完全对应。
适用的仪器：
- Micromeritics SAS Subsieve AutoSizer
筛分分析
对颗粒进行水平或垂直搅动后， 颗粒要么会留在筛子的网孔上，要么会通过网孔。 颗粒是否通过网孔取决于网孔大小、颗粒定向以及颗粒与筛面的接触次数。 该方法的粒径测量范围在 45 um 至 10 mm 之间。
适用的仪器：
-
- Tyler Ro-Tap RX-29
SEM–扫描电子显微镜
SEM 是一种分析工具，可使用聚焦电子束放大成像。 可以通过实时分析以高空间分辨率获得地形和成分信息。 SEM 图像分析可以从附聚物中分离出各个原生颗粒，并在使用适用的 SEM 软件处理颗粒时，直接测量颗粒本身及颗粒分布。
适用的仪器：
颗粒形状测量
颗粒形状效应通常对最终产品性能参数具有重大影响，例如，油墨和墨粉的流动性和喷涂模式、研磨效率和生物利用度。
对于基于光散射法和光透法的粒径分析而言，颗粒形状是确定粒径大小的一项重要限定参数，因为这些技术假定所有颗粒都是球形，但事实并非如此。
Micromeritics 分析服务使用光学显微镜、扫描电子显微镜和动态图像分析创建颗粒形状参数报告。
动态图像分析是一种自动化技术，可使用高分辨率 CCD 相机捕捉颗粒通过检测区时的图像。 捕捉到此图像后，我们便能够根据不同的形状参数计算粒径分布。
适用的仪器：
- Phenom Pro Desktop SEM
- 粒子系统 Particle Insight 动态图像分析仪
- 光学显微镜
光透法
该技术适用于测量液体悬浮液中颗粒的稀释浓度。 悬浮液在激光光源和检测仪之间通过时， 激光将照射流中的各个颗粒，并在检测仪上形成阴影或光阻。 这种方法即为光透法。 检测仪可对光强度的降低情况进行测量，并使用校准曲线，对信号进行处理，从而测定样品的粒径和浓度。 该方法的粒径测量范围在 0.5 µm 至 400 µm 之间。
该技术尤其适用于通过 USP 方法 <788> 和 <789> 检测注射液中的颗粒。
适用的仪器：
- 粒径测定系统 Accusizer 770
Zeta 电位电荷排斥测量
Zeta 电位是度量颗粒间静电或电荷排斥/吸引力大小的指标。 Zeta 电位大小取决于液体性质及颗粒性质。 它在测定溶液或乳液的聚合稳定性方面起着重要作用。 zeta 电位越大，排斥力越强，系统越稳定。
适用的仪器：
- NanoPlus HD-3