가능한 현미경 검사 기능

  •  다양한 광학 현미경
  • SEM – 주사 전자현미경 검사(Scanning Electron Microscopy)
  • TEM – 투과 전자현미경 검사(Transmission Electron Microscopy)
  • EDS – 에너지 분산 X선 분광법(Energy Dispersive X-Ray Spectroscopy)
  • micro FTIR – 푸리에 변환 적외선 분광법(Fourier Transform Infrared Spectroscopy)
  • SWLIM – 백색광 주사간섭 현미경 검사(Scanning White Light Interference Microscopy)
  • 공초점 라만 현미경법/분광법 

광학 현미경 검사:

작은 입자의 분류와 식별은 투과광과 반사광의 조합을 사용하는 현미경을 통해 입자를 관찰하는 것에서 시작합니다. 현미경을 통해 촬영된 입자는 특히 입자의 고유한 특성이 있을 때 보고용이나 광고용으로 측정하여 표시할 수 있습니다. 시료 관찰에 필요한 배율을 충족하기 위해 다양한 종류의 광학 현미경을 구비하고 있습니다.

주사 전자현미경 검사(SEM):

광학 현미경으로 관찰한 것을 확인하기 위해 두 번째 테스트가 필요하거나 입자가 불투명한 경우에는 빛 대신 전자를 사용하여 입자를 이미지화하고 분석할 수 있습니다. 가장 눈에 띄는 차이점은 SEM으로 생성된 이미지가 회색조라는 것입니다. 이미지는 광학 현미경보다 우수한 피사계 심도와 디테일을 보여주며, 전자가 시료에 조사될 때 시료에 존재하는 원소에 해당하는 X선이 생성된다는 추가적인 이점도 있습니다. 에너지 분산 X선 분광계(EDS)를 추가하면 시료를 이미지화하는 동안 시료에 존재하는 원소를 결정할 수 있습니다.

투과 전자현미경 검사(TEM):

광학 현미경 또는 주사 전자현미경으로 분석 및 이미지화하기에 너무 작은 입자는 투과 전자현미경으로 관찰하여 분석해야 합니다. 얇은 시료 또는 얇게 만들 수 있는 시료의 경우, TEM 이미징 기법으로 입자의 결정 구조와 원소 조성을 밝혀낼 수 있습니다(EDS). TEM으로 점토, 색소 입자, 박막 및 기타 나노미터 단위 크기의 입자를 분석하고 식별할 수 있습니다. 얇은 광물 섬유, 점토 입자 및 그을음과 같은 일부 물질은 분석을 위한 전처리가 거의 필요하지 않습니다. 그러나 다른 물질들은 분석 전에 상당한 시료 전처리가 필요합니다.

마이크로 푸리에 변환 적외선 분광법(FTIR):

가소성(쉽게 변형되는) 입자는 반사 및 투과 적외선을 사용하는 현미경으로 특성을 규명할 수 있습니다. 특성 규명 및 식별이 필요한 고분자 물질을 FTIR을 위해 전처리할 수 있습니다. 생성된 적외선 스펙트럼을 수천 개의 참조 스펙트럼과 비교하여 고분자의 유형을 결정할 수 있습니다. 때때로 최종 생성물에 바람직하지 않은 입자가 나타나는 제조 시설은 고객 반품의 특성 규명을 지원하기 위해 공정에 사용된 물질을 식별하는 적외선 스펙트럼의 참조 라이브러리를 유지합니다.

백색광 주사간섭 현미경 검사(SWLIM):

표면의 특성 규명을 위해서는 표면 거칠기를 측정하고 표면의 3차원 이미지를 제공할 수 있는 현미경을 사용하는 약간 다른 접근 방식이 필요합니다. 이 현미경은 초점을 통해 스캔하는 동안 반사된 백색광을 이용하여 표면 거칠기 매개변수를 계산할 수 있는 3차원 데이터 세트를 생성합니다. 스타일러스 단차 측정과 달리 SWLIM은 시료 전처리가 거의 또는 전혀 필요없는 비접촉 기술입니다.