Capacidades microscópicas disponibles
- Variedad de microscopios de luz óptica
- SEM – Microscopía electrónica de barrido
- TEM – Microscopía electrónica de transmisión
- EDS – Espectroscopía por dispersión de energía de rayos X
- micro-FTIR – Espectroscopía de infrarrojo por transformada de Fourier
- SWLIM – Microscopía con interferencia de luz blanca de barrido
- Microscopía/Espectroscopía Raman Confocal
Microscopía de luz óptica:
La clasificación e identificación de partículas pequeñas comienza con la observación de la partícula a través de un microscopio mediante una combinación de luz transmitida y reflejada. Las partículas fotografiadas a través del microscopio se pueden medir y exhibir para un informe o una publicidad, especialmente cuando las partículas presentan características únicas. Tenemos disponibles diversas variantes diferentes de microscopios ópticos para satisfacer las ampliaciones necesarias para la observación de su muestra.
Microscopía electrónica de barrido (SEM):
Cuando se necesita una segunda prueba para confirmar una observación hecha mediante microscopía óptica o cuando una partícula es opaca, se pueden obtener imágenes de la partícula y analizarla al usar electrones en vez de luz. La diferencia inmediata es que las imágenes producidas por la SEM están en escala de gris. Las imágenes revelan una profundidad de campo y detalle que es superior a la microscopía óptica con la ventaja agregada de que a medida que los electrones bombardean la muestra, se producen rayos x que son representativos de los elementos presentes en la muestra. Al agregar un espectrómetro de dispersión de energía de rayos X (EDS) se crea la capacidad de determinar los elementos presentes en la muestra mientras se generan imágenes de la muestra.
Microscopía electrónica de transmisión (TEM):
Las partículas demasiado pequeñas para su análisis y generación de imágenes mediante microscopía óptica o microscopía electrónica de barrido deben observarse y analizarse en el microscopio electrónico de transmisión. Para muestras delgadas o muestras que pueden volverse delgadas, las técnicas de obtención de imágenes por TEM pueden revelar la estructura cristalina de la partícula, así como su composición elemental (EDS). Las arcillas, partículas de pigmento, películas delgadas y otras partículas de tamaño en nanómetros se pueden analizar e identificar en el TEM. Algunos materiales tales como fibras minerales delgadas, partículas de arcilla y hollín necesitan muy poca preparación para ser analizados. Otros materiales requieren una preparación de muestra considerable antes del análisis.
Microespectroscopía de infrarrojo por transformada de Fourier (FTIR):
Las partículas que son plásticas (fácilmente deformables) se pueden caracterizar al usar un microscopio que usa luz infrarroja reflejada y transmitida. Los materiales poliméricos que deben caracterizarse e identificarse pueden prepararse para FTIR. El espectro de infrarrojo resultante se puede comparar con miles de espectros de referencia para determinar el tipo de polímero. Las plantas de fabricación en las que ocasionalmente aparecen partículas indeseables en sus productos terminados mantendrán una biblioteca de referencia de espectros de infrarrojo para identificar los materiales usados en sus procesos para auxiliar en la caracterización de devoluciones de clientes.
Microscopía con interferencia de luz blanca de barrido (SWLIM):
La caracterización de superficies requiere un enfoque ligeramente diferente al usar un microscopio que puede medir la rugosidad de la superficie y proporcionar una imagen tridimensional de la superficie. Este microscopio utiliza luz blanca reflejada mientras barre a través de un foco para crear un conjunto de datos tridimensionales a partir de los cuales se pueden calcular los parámetros de la rugosidad de la superficie. A diferencia de la perfilometría mecánica, SWLIM es una técnica sin contacto que requiere escasa o nula preparación de la muestra.