Verfügbare Mikroskopiemöglichkeiten
- Verschiedene optische Lichtmikroskope
- REM – Rasterelektronenmikroskopie
- TEM – Transmissionselektronenmikroskopie
- EDRS – Energiedispersive Röntgenspektroskopie
- Micro-FTIR – Fourier-Transformationsinfrarotspektroskopie
- SWLIM – Weißlichtinterferenzmikroskopie
- Konfokale Raman-Mikroskopie/Spektroskopie
Optische Lichtmikroskopie:
Die Klassifizierung und Identifizierung kleiner Partikel beginnt mit ihrer mikroskopischen Beobachtung mithilfe einer Kombination aus Durchlicht und Auflicht. Durch das Mikroskop fotografierte Partikel können für einen Bericht oder für Werbung gemessen und dargestellt werden, insbesondere, wenn den Partikeln einzigartige Merkmale innewohnen. Wir verfügen über mehrere verschiedene Varianten von Lichtmikroskopen für die erforderlichen Vergrößerungen zur Beobachtung Ihrer Probe.
Rasterelektronenmikroskopie (REM):
Wenn ein zweiter Test zur Bestätigung einer lichtmikroskopischen Beobachtung benötigt wird oder wenn ein Partikel opak ist, kann es mittels Elektronen an Stelle von Licht abgebildet und analysiert werden. Der unmittelbare Unterschied besteht darin, dass die von der REM produzierten Bilder in Grauskala dargestellt werden. Die Bilder lassen eine Tiefenschärfe und Detailgenauigkeit erkennen, die der Lichtmikroskopie überlegen ist, mit dem zusätzlichen Bonus, dass beim Beschuss der Probe durch Elektronen Röntgenstrahlen erzeugt werden, die repräsentativ für die in der Probe vorhandenen Elemente sind. Durch Hinzunahme eines energiedispersiven Röntgenspektrometers (EDRS) wird die Bestimmung der in der Probe vorhandenen Elemente während der Abbildung ermöglicht.
Transmissionselektronenmikroskopie (TEM):
Partikel, die zu klein sind, um durch Lichtmikroskopie oder Rasterelektronenmikroskopie analysiert und abgebildet zu werden, erfordern ein Transmissionselektronenmikroskop. Bei Dünnschliffen können die TEM-Bildgebungsverfahren die kristalline Struktur des Partikels sowie dessen Elementzusammensetzung erkennen lassen (EDS). Tone, Pigmentpartikel, Dünnfilme und andere Partikel in Nanometergröße können mit der TEM analysiert und identifiziert werden. Manche Werkstoffe wie dünne Mineralfasern, Tonpartikel und Ruß benötigen sehr wenig Vorbereitung. Andere erfordern vor der Analyse dagegen eine erhebliche Probenvorbereitung.
Micro-Fourier-Transformationsinfrarotspektroskopie (FTIR):
Partikel aus Kunststoff (leicht verformbar) können mit einem Mikroskop beschrieben werden, das mit Auflicht und durchgelassenem Infrarotlicht arbeitet. Polymerwerkstoffe können für die FTIR entsprechend vorbereitet werden. Das resultierende Infrarotspektrum kann mit Tausenden von Referenzspektren verglichen und so der Polymertyp bestimmt werden. Produktionsstätten, bei denen gelegentlich unerwünschte Partikel in den Endprodukten auftreten, führen eine interne Handbibliothek mit Infrarotspektren, mit der sie die in ihren Prozessen verwendeten Werkstoffe identifizieren, damit Kundenretouren leichter beschrieben werden können.
Weißlichtinterferenzmikroskopie (SWLIM):
Die Charakterisierung von Oberflächen erfordert einen etwas anderen Ansatz; dabei wird ein Mikroskop verwendet, das die Oberflächenrauheit messen und dreidimensional abbilden kann. Dieses Mikroskop nutzt Auflicht-Weißlicht zum Scannen der Fokusebenen, um einen dreidimensionalen Datensatz zu erzeugen, anhand dessen Oberflächenrauheitsparameter berechnet werden können. Anders als die Stylus-Profilometrie ist SWLIM ein kontaktloses Verfahren, das wenig bis gar keine Probenvorbereitung erfordert.