TPR von Kupferoxid-Nanopartikeln auf Aluminiumoxid - Verständnis der Auswirkungen von Partikelgröße und Oberflächenchemie

8. Dezember 2021

Übersicht

Die temperaturprogrammierte Reduktion (TPR) wird häufig zur Charakterisierung der Reduzierbarkeit von Metalloxiden verwendet. Sie ist ein Fingerabdruck der Reduktion des Materials in Abhängigkeit von der Temperatur. Die Peakflächen und maximalen Peaktemperaturen geben Aufschluss über die Stärke, Heterogenität und Menge der reduzierbaren Spezies. TPR-Untersuchungen sind oft wiederholbar, aber eine Änderung der Versuchsbedingungen oder der Vorbereitung des Materials kann die Ergebnisse beeinflussen. Aufgrund dieser Komplexität werden die Versuchsbedingungen auf der Grundlage von Modellen wie dem von Monti und Baiker ausgewählt, bei dem die Auswahl auf der Grundlage der Heizrate, der Wasserstoffkonzentration, der Gesamtdurchflussrate und der Menge des reduzierbaren Materials erfolgt. In diesem Webinar werden wir dies anhand von Kupferoxid auf einem Aluminiumoxidträger näher untersuchen und die Auswirkungen der Partikelgröße und der Oberflächenchemie sowie deren Einfluss auf den Reduktionsfingerabdruck darstellen.
 

Sprecher

Hoang Nguyen

Hoang Nguyen

Anwendungswissenschaftler, Micromeritics Instrument Corporation

Hoang schloss 2011 sein Studium an der University of California, Irvine, mit einem Bachelor of Science in Chemieingenieurwesen ab. Bevor er zu Micromeritics kam, arbeitete er bei Rosemount Analytical (Emerson) an der Entwicklung von automatisierten Online-Analysatoren für die Messung (PPB-Werte) von Kieselsäure, Phosphat, Natrium und Hydrazin. 2017 kehrte er an die UCI zurück, um ein Graduiertenstudium in physikalischer Chemie zu absolvieren und arbeitete an Laserspektroskopietechniken wie Transienter Adsorptionsspektroskopie, zeitaufgelöster laserinduzierter Fluoreszenz und optischen Pinzetten. Im Jahr 2019 zog er nach Georgia und trat bei Micromeritics als Laboranalytiker im Particle Testing Authority Lab ein und wechselte 2020 in das Anwendungsteam bei Micromeritics.

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