粒子径

マイクロメリティックス社では、コーティングや鉱物から医薬品に至るまで、様々な産業において重要な要素である精密な粒子径分析を行うために設計された装置を提供しています。このページでは、粒子径測定の原理、マイクロメリティクスの高度な技術、そしてマイクロメリティクスの技術がお客様の研究、開発、品質管理プロセスをどのように最適化できるかについて説明します。

粒子径とは?

粒子径とは、材料中の個々の粒子の寸法を指し、通常直径で測定される。粒子径は材料の物理的・化学的特性に影響するため、粒子径を理解することは非常に重要である。
。粒子径の測定には、X線沈降法と通気法の2つの方法がある。

X線沈降

X線沈降法は、粒子が液体媒体中で沈降する際に粒径別に分離する自然な傾向を利用します。セディグラフを使用し、軟X線の吸着によって各粒子径の質量分率を測定します。この方法では、粒度分布が狭い場合に優れた分解能が得られます。完全な粒度分布測定により、0.1µm以下のフラクションを含め、導入されたサンプルのすべてが確実に測定されます。

空気透過性

この技法は、充填された粉体層を横切る圧力損失の原理を利用する。粉末の嵩密度の違い、つまりベッドの「気孔率」の違いにより、平均表面積と粒子径はKozeny-Carmenの式に従って圧力降下と流量の関数として決定することができます。SASは0.2 µmから75 µmの範囲の粒子径を測定し、圧縮精度は0.05 mm未満です。この方法では、確立されたFisher Sub-Sieve Sizerと相関する結果が得られます。

ソリューション

楽器

セディグラフ

X線沈降法による無機粒子の粒度分布

睡眠時無呼吸症候群

フィッシャー95型サブシーブサイザー(FSSS)の粒子径、表面積、パウダーベッドの空隙率を測定する全自動代替機

サービス

単一サンプルの分析から、複雑な分析法の開発やバリデーション、新製品の評価、大規模な製造プロジェクトへの対応まで、包括的な特性評価サービスを提供しています。

利用可能なオプション

  • 動的光散乱(DLS)による粒子径測定
  • 静的光散乱による粒子径測定
  • X線沈降法
  • 透気度 粒子径測定
  • ふるい分析
  • SEM-走査型電子顕微鏡
  • 光のオブスキュレーション
  • ゼータ電位-電荷反発測定

関連リソース

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