SediGraph III Plus 5125

SediGraph III Plusは、質量濃度を直接検出して、D10、D50、D90などの粒子径分布と統計データを測定します。 ボタン操作で基本レポートと詳細レポートを作成できます。 オプションのMasterTechオートサンプラーを装着して、生産工程を継続的に監視し、収集したデータをネットワークやクラウドで共有して、リモートアクセスできます。

特長と利点：

インテリジェントな設計機能

SediGraph III Plusは、再現性の高い測定を容易に実行できるよう、高度な計装機能を提供します。 新機能が追加されたことで、装置の運用とメンテナンスがさらに容易になり、測定結果を様々な場所で確実に再現できるようになりました。

設計の改善項目は次のとおりです。

• 全粒子径範囲を測定：0.1 µm未満の小さい粒子を含め、投入されたサンプルの粒子をすべて確実に測定
• データの結合：他の粒子径測定手法によるデータを結合して、レポートの対象範囲データを125,000 µm（125 mm）まで拡張することができ、地質学の分野に最適
• 沈降セルのスキャン：包括的なスキャンによって沈降の速い粒子を正確に捕捉しながら、微粒子の分離に必要な時間を短縮
• 全自動による運用：サンプルのスループットを高め、オペレーターの介入を削減して人為的ミスのリスクを低減
• 測定時の温度制御：測定中に液体の特性が一定に保たれるため、再現性の高い正確な測定結果を保証
• 複数の測定速度に対応：ニーズに応じて最適な速度と分解能の組み合わせを選択可能
• リアルタイム表示：進行中の測定を累積質量プロットとして監視できるので、必要に応じて直ちに手順を変更可能
• 統計的プロセス管理（SPC）レポート：プロセスの成果を追跡し、変動が生じた場合に直ちに対応可能
• プロットの重ね合わせ：複数の測定結果の比較（標準サンプルの測定結果との比較など）、または同じ測定データの異なる種類のプロットの重ね合わせが可能
• データ比較プロット：2つのデータセットの数学的な差（標準プロットとの差）、または許容範囲を上回る、もしくは下回るデータポイント値（規格外のプロット）をグラフで表示
• 複数の分析装置の制御：2台のSediGraph IIIを1台のコンピューターで同時に運用することができるので、研究室の省スペース化を実現し、データの保存が容易に

仕様

技術

MicromeriticsのSediGraphは、世界各地の多くの実験室で、標準的な粒子径分析装置として支持され続けています。 苛酷な製造現場であれ、管理の行き届いた研究室であれ、どのような環境においても、SediGraphは正確な測定結果と卓越した信頼性を提供し続けています。 この装置では、沈降法を用いて粒子径分布を測定します。 粒子の質量はX線吸収によって直接測定され、 物性既知の液体中を粒子がStokes（ストークス）の法則に従って沈降する速度の測定から、粒子の球直径を算出します。測定範囲は300～0.1 μmです。

次世代のSediGraph III Plusは、この実証済みの手法と新技術を組み合わせることで、粒子径データの精度と再現性を向上させており、ほとんどの測定を数分以内に完了させることができます。

全粒子径範囲を測定：0.1 µm未満の小さい粒子を含め、投入されたサンプルの粒子をすべて確実に測定

データの結合：他の粒子径測定手法によるデータを結合して、レポートの対象範囲データを125,000 µm（125 mm）まで拡張することができ、地質学の分野に最適

沈降セルのスキャン：包括的なスキャンによって沈降の速い粒子を正確に捕捉しながら、微粒子の分離に必要な時間を短縮

全自動による運用：サンプルのスループットを高め、オペレーターの介入を削減して人為的ミスのリスクを低減

測定時の温度制御：測定中に液体の特性が一定に保たれるため、再現性の高い正確な測定結果を保証

複数の測定速度に対応：ニーズに応じて最適な速度と分解能の組み合わせを選択可能

リアルタイム表示：進行中の測定を累積質量プロットとして監視できるので、必要に応じて直ちに手順を変更可能

統計的プロセス管理（SPC）レポート：プロセスの成果を追跡し、変動が生じた場合に直ちに対応可能

プロットの重ね合わせ：複数の測定結果の比較（標準サンプルの測定結果との比較など）、または同じ測定データの異なる種類のプロットの重ね合わせが可能

データ比較プロット：2つのデータセットの数学的な差（標準プロットとの差）、または許容範囲を上回る、もしくは下回るデータポイント値（規格外のプロット）をグラフで表示

複数の分析装置の制御：2台のSediGraph IIIを1台のコンピューターで同時に運用することができるので、研究室の省スペース化を実現し、データの保存が容易に

適用分野

セラミックス： セラミック粉末の粒子径の範囲や各粒子径クラスの質量分布は、焼結性や成形特性、最終製品内の細孔径分布に大きく影響します。 粒子径分布のデータは、硬化および結合処理の決定、細孔構造の制御、適切な成形体強度の実現、所期の強度や質感、外観、密度を有する最終製品の製造に役立ちます。

金属粉末： 粒子径を制御することにより、製品の細孔特性を詳細に設計することができます。 多くの場合、細孔特性は製品の性能を大きく左右します。 セラミックスと同様に、粒子径分布は成形体および最終製品の強度や密度を決定する重要な要因となります。

地質・土壌科学： 結晶粒径は、土壌の保水力、排水速度、養分保持力に影響し、 運搬作用にも直接関係します。

化粧品： タルクなどのベース粉末や着色用顔料の粒子径分布は、化粧品の外観や用途、包装に影響を与えます。

顔料： 粒子径は、それ自体が色材の着色力に影響します。 着色力が大きいほど、必要な色強度を得るための顔料量が減少します。 粒子径は、塗料の隠蔽力に影響します。 また、光沢や質感、彩度、明度も粒子径分布の影響を受けます。

触媒： 粒子径は、構造に敏感な触媒反応に用いる金属の触媒活性に影響を与えます。

建設資材： セメントの粒子径は、完成したコンクリートとセメントの凝結時間や強度特性に影響を与えます。

鉱物・無機化学品： 材料の反応性は、露出表面積と密接に関連するため、粒子径分布に依存します。

研磨剤： スラリー、乾式ブラスト、砥石のいずれの形で利用する場合も、砥粒や粉末の粒子径分布について適切なバランスを考慮することが基本となります。 粒子径が均一であれば、ブラストマシンにおける正確な流量制御が可能になり、また研磨材のリサイクルにおける媒体管理において重要な役割を果たします。

アクセサリー

ソフトウェア

汎用性の高いデータプレゼンテーションとレポートシステム

SediGraph III Plusには、Windowsベースのプログラムのあらゆる便利な機能を備えた、使いやすく汎用性の高いユーザーインターフェイスが搭載されています。 これらの機能には、ポイント＆クリック方式のメニュー、研究室のロゴを挿入してカスタマイズできるレポート、グラフの編集、図表のカット＆ペースト、データのエクスポートなどが含まれています。 カスタムプロトコルを作成することで、測定の計画や実施、管理が容易になり、オペレーターのスキルにかかわらず、同じ手法と条件で測定を継続できます。 生データを収集、整理、アーカイブおよび削減できるほか、標準化されたサンプル情報と分析条件を保存して、将来の適用事例で容易に活用することができます。 作成したレポートは、画面表示、印刷または多様な形式のファイルでデバイスに保存できます。

データレポートの作成

SediGraph III Plusでは、300～0.1 µmの粒子に関する詳細な測定データを自動的に取得できます。 125,000～300 µmの粒子径に関する他の測定データを、SediGraphのデータと組み合わせて、125,000～0.1 µmの粒子に関する効果的なレポートを作成できます。

測定データは表形式のほか、次のような各種グラフを用いたプロット表示が可能です。

• 累積質量・面積・個数
• 沈降速度分布
• プロセス管理図
• 対数確率紙プロット
• ベースライン／フルスケール標準曲線
• 頻度分布
• 標準との差
• 規格外
• ロジン・ラムラー（Rosin-Rammler）分布
• 回帰分析

プロットを重ね合わせることで、異なるサンプルの測定結果や、同じサンプルに関する異なるプロットを比較することができます。 これにより、標準サンプルとの測定結果の比較も可能になります。 プロットのスケールは変更できるので、グラフデータを綿密に精査できます。 表およびグラフのx軸の選択肢として、Ф単位（Ф = -log2（粒子径mm））のカラムが追加されました。 また、表形式では沈降速度（cm/s）のカラム選択も利用できます。 プロットのx軸のスケールには、粒子径または沈降速度を使用できます。